MTSY-34型 塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀

薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜分析、薄片的厚度測(cè)試註入了新的力量，還可適用于紙張責任製、紙板的厚度測(cè)試估算、箔片顯示、硅片深入交流研討、金屬片的厚度測(cè)試保供、紡織材料的厚度測(cè)試體製、固體電絕緣體的厚度測(cè)試效率。

●技術(shù)參數(shù)

1規模、分度值0.001mm 量程0-12mm

2、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)適應性，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）

     時(shí)節點，其測(cè)量 面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。

3落地生根、測(cè)量精度

    100um以內(nèi) 精度1um     100um到250um 精度2um

    250um以上 精度3um

4的特點、外型尺寸：160×140×200mm    

5健康發展、整機(jī)重量：1.5kg